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芯片失效分析步驟:
1、非破壞性分析:主要是超聲波掃描顯微鏡c-sam--看有沒delamination,xray--看內部結構,鎮江3d顯微鏡,等等;
2、電測:主要工具,萬用表,示波器, tek370a
3、破壞性分析:機械decap,化學 decap芯片開封機
4、半導體器件芯片失效分析 芯片內部分析,孔洞氣泡失效分析。
蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測試、檢測儀器設備的代理銷售和技術服務,產品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測試與檢測。
超聲波掃描顯微鏡特點:非破壞性、對樣品無損壞。分辨率高,可確定缺陷在樣品內部的準確位置。工作方式按接收信息模式可分為反射模式與透射模式。按掃描方式分可分為 c掃,3d顯微鏡,b掃,3d顯微鏡供應商,x掃,z掃,分焦距掃描,分波長掃描等多種方式。二次打標假l冒識別塑封器件二次打標可用于塑封元器件表面標識的假l冒識別,通過對期間標識層的多層掃描可發現二次打標痕跡。
超聲波掃描顯微鏡有兩種工作模式:基于超聲波脈沖反射和透射模式工作的。反射模式是主要的工作模式,它的特點是分辨率高,對待測樣品厚度的沒有-。透射模式只在半導體企業中用作器件篩選。該系統的就是帶壓電陶瓷的微波鏈,壓電陶瓷在射頻信號發生的激勵下,3d顯微鏡價格,產生短的聲脈沖,隨后這些聲脈沖被聲透鏡-在一起,超聲波掃描顯微鏡的這 個帶壓電陶瓷的部件叫換能器,英文是:transducer。換能器既能把電信號轉換成聲波信號,又能把從待測樣品反射或透射回來的聲波信號轉換成電信 號,送回系統進行處理。
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