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陶瓷電容的制作原理是什么

用高介電常數(shù)的電容器陶瓷〈鈦酸鋇一氧化鈦〉擠壓成圓管、圓片或圓盤作為介質(zhì)，并用燒滲法將銀鍍在陶瓷上作為電極制成。它又分高頻瓷介和低頻瓷介兩種。具有小的正電容溫度系數(shù)的電容器，用于高穩(wěn)定振蕩回路中，作為回路電容器及墊整電容器。低頻瓷介電容器限于在工作頻率較低的回路中作旁路或隔直流用，或?qū)Ψ�(wěn)定性和損耗要求不高的場合〈包括高頻在內(nèi)〉。這種電容器不宜使用在脈沖電路中，因?yàn)樗鼈円子诒幻}沖電壓擊穿。

向陶瓷電容器施加超過其額定電壓的電壓，會(huì)導(dǎo)致短路故障還是開路故障　　

一般來說，向電容器施加過量電壓后都會(huì)導(dǎo)致短路故障。片狀獨(dú)石陶瓷電容器的損壞電壓為其額定電壓的5~10倍以上，暄泰電子，稍高于額定電壓的外加電壓很難對(duì)電容器造成瞬間損壞。

但在使用中如向電容器施加的電壓超過其額定電壓，則不在保修范圍之內(nèi)。

電容器的電壓加速和溫度加速　　

通過電壓加速與溫度加速系數(shù)可推算出電容器的使用壽命�？蓪�產(chǎn)品使用時(shí)的外部環(huán)境溫度及施加電壓作為參數(shù)進(jìn)行公式化。 一般來說，阿列紐斯法則被廣泛用于加速公式中，cbb81電容，而我們運(yùn)用以下公式便可簡單地進(jìn)行推算。 47_01cn.png 在此公式的基礎(chǔ)上，通過在更為嚴(yán)苛的條件(更高溫、更高電壓)下進(jìn)行加速試驗(yàn)，可推算出產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下的使用壽命。 在此，電容，我們一起來比較一下獨(dú)石陶瓷電容器的加速試驗(yàn)與實(shí)際產(chǎn)品使用的假定環(huán)境。我們將電容器的加速試驗(yàn)---耐久試驗(yàn)時(shí)間視為la，cbb電容，將實(shí)際使用環(huán)境下的相當(dāng)年數(shù)視為ln，用于上述公式。 耐久試驗(yàn)條件 假定使用環(huán)境 電壓加速系數(shù) 溫度加速系數(shù) 相應(yīng)年限 ta＝85°c va＝20v la＝1000h tn＝65°c vn＝5v n＝4 θ＝8 ln＝？h 這樣，我們即可通過在85°c、施加20v電壓的環(huán)境下進(jìn)行了1000h的耐久試驗(yàn)，推算出在5°c、施加5v電壓的環(huán)境下產(chǎn)品使用年限為1448155h(≒165年！)。計(jì)算中使用的電壓加速系數(shù)、溫度加速系數(shù)會(huì)由陶瓷材料的種類及構(gòu)造產(chǎn)生不同，但通過加速計(jì)算公式可在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)利用試驗(yàn)結(jié)果來驗(yàn)證長時(shí)間的實(shí)際使用環(huán)境中的產(chǎn)品使用壽命。