型號
技術指
量程
測量范圍
分辨率
測試電流
準確度
200ω
0-199.9ω
100mω
0.1%
2kω
0-1.999kω
1ω
0.1%
20kω
0-19.99kω
10ω
0.1%
顯示方式
3 1/2位led數碼管
設定范圍
上、下限設定,全量程
分選方式
聲、光快速指示
分選誤差
+2個字
校準功能
零點及滿度校準
響應時間
<0.5s
電源
功耗
≤5w
外型尺寸
重量
備注:
適用于對各類元件的直流電阻值作精密測量和快速分選之用。產品體積小、重量輕、造型美觀、攜帶方便。產品帶單片微處理機和rs232串行通訊接口,可方便地與計算機通訊。
正陽儀表 數字式直流電阻分選儀 zy9965μp-4更多相關產品>;>;>;>;>;
st2253型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 準。
儀器成套組成:由主機、選配的四探針、測試臺以及pc軟件等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率adc、嵌入式單片機系統組成,usb通訊接口。儀器主機所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤和數碼開關輸入;具有零位、滿度自校功能;測試功能可自動/手動方式;儀器操作可由配套軟件在pc機上操作完成,也可脫pc機由四探針儀器面板上操作完成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示,也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印!
選配:根據不同材料特性需要,可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜ito膜或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配---,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配:一般
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、---院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
3.1 測量范圍
電 阻:1×10-4~2×105ω ,分辨率:1×10-5~1×102ω
電阻率:1×10-4~2×105ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102ω-cm
方 阻:5×10-4~1×106ω/□,分辨率:5×10-5~1×102ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑:szt-a圓測試臺直接測試方式 φ15~130mm,
szt-b/c/f方測試臺直接測試方式180mm×180mm,
長(高)度:測試臺直接測試方式 h≤100mm,
測量方位: 軸向、徑向均可
3.3 量程劃分及誤差等級
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
kω-cm/□
kω-cm/□
ω-cm/□
mω-cm/□
&plun;2%fsb
&plun;4lsb
&plun;1.5%fsb
&plun;4lsb
&plun;0.5%fsb&plun;2lsb
&plun;1.0%fsb
&plun;4lsb
3.4 四探針選配其一或加配全部
(1)碳化鎢探針:φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調
(2)薄膜方阻探針:φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調
3.5. 電源
輸入: ac 220v&plun;10% ,50hz 功 耗:<20w
3.6.外形尺寸:
主 機 220mm長×245 mm寬×100mm高
凈 重:≤2.5kg
|